Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-6490LV с системой микроанализа INCA Energy 450 x-МАХ 50 Premium и системой HKL Premium EBSD System NORDLYS II 2 S Oxford Instruments Ltd

Технические характеристики электронного микроскопа:

• термоэмиссионный источник электронов;
• ускоряющее напряжение 0,3 – 30 кВ;
• увеличение от x 5 до x 300 000;
• разрешение до 3,0 нм (при ускоряющем 30 кВ);
• виды контраста (вторичные и отраженные электроны): топографический, композиционный, теневой;
• столик для образцов эвцентрического типа с компьютерным управлением.

Направления использования:

• исследование микроструктуры различных материалов неорганического происхождения;
• топографический и качественный фазовый анализ поверхности;
• возможность исследования крупногабаритных образцов (высота до 45 мм, диаметр до 200 мм).

Металлографический инвертированный микроскоп Zeiss Axio Observer 3

Основные особенности:

Бинокулярная насадка с углом наклона 45 °, видеовыход

Револьверное устройство для установки 6 объективов: 50x, 100x, 200x, 500x, 1000x

Безрефлексные планполуапохроматы повышенного разрешения и контраста для работы по методам светлого и темного поля, поляризации

• EC Epiplan-Neofluar 5x/0.13 HD M27 (WD=14.5mm)
• EC Epiplan-Neofluar 10x/0.25 HD M27 (WD=9mm)
• EC Epiplan-Neofluar 20x/0.50 HD M27 (WD=2.2mm)
• EC Epiplan-Neofluar 50x/0.8 HD M27 (WD=0.60mm)
• EC Epiplan-Neofluar 100x/0.90 HD M27 (WD=0.28mm)

Предметный столик 250х230мм

Большой выбор методов контрастирования

Circular Differential Interference Contrast (C-DIC) - круговой дифференциально-интерференционный контраст

Блок для реализации темного поля в отраженном свете (Reflector module darkfield ACR P&C for reflected light)

Возможные исследования:

• Оценка среднего размера зерна (ГОСТ 5639-82, ГОСТ 21073-75, astm e1382, astm e112, din 50 601.)
• Оценка загрязненности стали неметаллическими включениями (astm e1245.)
• Оценка микроструктуры графита в чугуне
• Шаровидность графита в чугуне
• Оценка качества материалов на основе графита ГОСТ 26132-84.
• Определение пористости материалов на основе углерода.
• Методика выполнения измерений процентного содержания графита в образцах углеродных материалов.
• Методика выполнения измерения анизометричности зерен.
• Определение структурной полосчатости стали
• Оценка микроструктуры перлита
• Определение размера перлитных колоний.
• Определение процентного соотношения сорбитообразного и пластинчатого перлита.
• Оценка металлургического качества жаропрочных никелевых сплавов
• Оценка качества двухфазных титановых сплавов
• Измерение слоев и покрытий
• Методы сравнения с эталонами

Микроскоп металлографический инвертированный Meiji-200 MeijiTechnoCorp/ в комплекте с программой анализа изображений Thixomet PRO ООО «Тиксомет»

Технические характеристики:

• Новая усовершенствованная ICOS - оптика (оптическая система микроскопа, скорректированная на «бесконечность», с тубусной системой F=200 мм)
• Объективы безрефлексные планахроматические Planachromat Epi: 50x, 100x, 200x, 500x,1000x
• Сверхширокопольные окуляры 10x (для работы в очках), линейное поле -22 мм
• Удобные бинокулярные насадки с фото-/видеовыходом
• Столик предметный 180 x245 мм
• Осветитель отраженного света, галогенная лампа (6В 30Вт)
• Фото-/видеовыход во фронтальной части основания
• Фото- и видео-документирование

Возможные исследования:

• Оценка среднего размера зерна (ГОСТ 5639-82, ГОСТ 21073-75, astm e1382, astm e112, din 50 601.)
• Оценка загрязненности стали неметаллическими включениями (astm e1245.)
• Оценка микроструктуры графита в чугуне
• Шаровидность графита в чугуне
• Оценка качества материалов на основе графита ГОСТ 26132-84.
• Определение пористости материалов на основе углерода.
• Методика выполнения измерений процентного содержания графита в образцах углеродных материалов.
• Методика выполнения измерения анизометричности зерен.
• Определение структурной полосчатости стали
• Оценка микроструктуры перлита
• Определение размера перлитных колоний.
• Определение процентного соотношения сорбитообразного перлита и пластинчатого.
• Оценка металлургического качества жаропрочных никелевых сплавов
• Оценка качества двухфазных титановых сплавов
• Измерение слоев и покрытий
• Методы сравнения с эталонами

Анализатор стереоизображений поверхности твердых тел на базе стереомикроскопа MeijiTechnoRZ-B MeijiTechnoCorp. в комплекте с программой анализа изображений Thixomet PRO ООО «Тиксомет»

Технические характеристики:

• Оптическая схема Аббе.
• Общее увеличение (с комплектом окуляров и объективов): от 3.75x до 300x. ZOOM 1:10 (0.75x - 7.5x).
• Основные объективы Plan Achromat: 0.5x, 0.75x, 1.0x, 1.5x, 2.0x.
• Сверхширокопольные окуляры (UWF) с диоптрийной настройкой: 10x, 15x, 20x.
• Бинокулярные насадки: стандартная бинокулярная насадка с углом наклона окулярных трубок 45°, эргономичная бинокулярная насадка с регулируемым углом наклона окулярными трубками от 10° до 50°.
• Фото- и видео-документирование.

Возможные исследования: анализ поверхности изломов